背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响OA北大核心CSCDCSTPCD
Back-thining on Reliability Influence for MW 320×256 MCT IRFPA
通过对A版（初减薄）和B版（终减薄）中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验，并对其试验后的光电特性进行比较，最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。
The article devises and accomplishes the reliability experiment for A type ( preliminary back-thining ) and B type ( ultimate back-thining ) of MW 320 × 256MCT IRFPA. The photoelectric characteristic of A type and B type is compared after experiment. The preliminary assessment is done for B type on work life.
田立萍;朱颖峰;刘湘云;郭建华
昆明物理研究所,云南 昆明,650223昆明物理研究所,云南 昆明,650223昆明物理研究所,云南 昆明,650223昆明物理研究所,云南 昆明,650223
信息技术与安全科学
背减薄焦平面探测器工作寿命
back-thiningIRFPAwork life
《红外技术》 2013 (10)
629-631,3
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