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不同双栅极设计对a-Si:H TFT特性影响

林致远 马骏 林亮 杨成绍 邹志翔 黄寅虎 文锺源 王章涛

液晶与显示2016,Vol.31Issue(5):460-463,4.
液晶与显示2016,Vol.31Issue(5):460-463,4.DOI:10.3788/YJYXS20163105.0460

不同双栅极设计对a-Si:H TFT特性影响

Effect of different dual gate design on A-Si:H TFT electrical characteristics

林致远 1马骏 1林亮 1杨成绍 1邹志翔 1黄寅虎 1文锺源 1王章涛1

作者信息

  • 1. 合肥鑫晟光电科技有限公司,安徽合肥230012
  • 折叠

摘要

关键词

高开口率高级超维场转换技术/非晶硅/薄膜电晶体/双栅极

Key words

HADS/a-Si/TFT/dual gate

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

林致远,马骏,林亮,杨成绍,邹志翔,黄寅虎,文锺源,王章涛..不同双栅极设计对a-Si:H TFT特性影响[J].液晶与显示,2016,31(5):460-463,4.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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