| 注册
首页|期刊导航|光学精密工程|SOI压阻传感器的阳极键合结合面检测

SOI压阻传感器的阳极键合结合面检测

陈立国 王挺 李亚娣 潘明强

光学精密工程2016,Vol.24Issue(6):1382-1388,7.
光学精密工程2016,Vol.24Issue(6):1382-1388,7.DOI:10.3788/OPE.20162406.1382

SOI压阻传感器的阳极键合结合面检测

Detection of anodic bonding joint surface for SOI piezoresistive sensor

陈立国 1王挺 1李亚娣 1潘明强1

作者信息

  • 1. 苏州大学机电工程学院 & 苏州纳米科技协同创新中心,江苏苏州215021
  • 折叠

摘要

关键词

绝缘体上硅(SOI)/压阻传感器/芯片/封装质量/视觉检测/阳极键合

Key words

Silicon On Insulator (SOI)/piezoresistive sensor/chip/packaging quality/visual detection/anodic bonding

分类

计算机与自动化

引用本文复制引用

陈立国,王挺,李亚娣,潘明强..SOI压阻传感器的阳极键合结合面检测[J].光学精密工程,2016,24(6):1382-1388,7.

基金项目

国家863高技术研究发展计划资助项目(No.2012AA041201) (No.2012AA041201)

高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(No.20133201130003) (No.20133201130003)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文