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电子元器件的失效模型与可靠性试验方法解析

蒲晓明

科技创新与应用Issue(23)：101-101,1.
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科技创新与应用Issue(23)：101-101,1.

电子元器件的失效模型与可靠性试验方法解析

蒲晓明1

作者信息

  • 1. 陕西省电子技术研究所，陕西 西安 710004
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摘要

关键词

电子元器件/失效模型/可靠性试验

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蒲晓明..电子元器件的失效模型与可靠性试验方法解析[J].科技创新与应用,2016,(23):101-101,1.

科技创新与应用

2095-2945

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