首页|期刊导航|质谱学报|二次离子质谱仪中二次中性粒子空间分布研究

二次离子质谱仪中二次中性粒子空间分布研究

王培智田地龙涛王利包泽民邱春玲刘敦一

质谱学报2016，Vol.37Issue(3)：222-228,7.

质谱学报2016，Vol.37Issue(3)：222-228,7.DOI:10.7538/zpxb.2016.37.03.0222

Research of Secondary Neutral Particles Spatial Distribution of Secondary Ion Mass Spectrometer

王培智 ¹田地 ¹龙涛 ²王利 ³包泽民 ¹邱春玲 ¹刘敦一²

作者信息

二次离子质谱(SIMS)/飞秒激光后电离/中性粒子

secondary ion mass spectrometer (SIMS)/femtosecond post-ionization/neutral particles

化学化工

王培智,田地,龙涛,王利,包泽民,邱春玲,刘敦一..二次离子质谱仪中二次中性粒子空间分布研究[J].质谱学报,2016,37(3):222-228,7.

国家重大科学仪器设备开发专项《同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器》之任务二(2011YQ05006902)资助（2011YQ05006902）

OA北大核心CSCDCSTPCDEI

ISSN：1004-2997

访问量0

下载量0

段落导航