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考虑寄生参数的高压GaN高电子迁移率晶体管的逆变器动态过程分析

张雅静 郑琼林 李艳

电工技术学报2016,Vol.31Issue(12):126-134,9.
电工技术学报2016,Vol.31Issue(12):126-134,9.

考虑寄生参数的高压GaN高电子迁移率晶体管的逆变器动态过程分析

Dynamic Analysis of Inverter Based on High Voltage GaN High Electron Mobility Transistor

张雅静 1郑琼林 2李艳2

作者信息

  • 1. 北京化工大学信息科学与技术学院 北京 100029
  • 2. 北京交通大学电气工程学院 北京 100044
  • 折叠

摘要

关键词

宽禁带半导体器件/氮化镓高电子迁移率晶体管/动态过程

Key words

Wide band gap semiconductor device/GaN high electron mobility transistor/dynamic process

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张雅静,郑琼林,李艳..考虑寄生参数的高压GaN高电子迁移率晶体管的逆变器动态过程分析[J].电工技术学报,2016,31(12):126-134,9.

基金项目

中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(ZY1505). (ZY1505)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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