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稳定燃弧条件下继电器触头蒸发侵蚀特性的研究

张勇崔行磊周学陈默翟国富

电器与能效管理技术Issue(15)：32-39,8.

电器与能效管理技术Issue(15)：32-39,8.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2016.15.007

Study on Evaporation Erosion of Copper Contacts under Stable Arc

张勇 ¹崔行磊 ¹周学 ¹陈默 ¹翟国富¹

作者信息

触头/熔池/蒸发侵蚀/气体动力学

信息技术与安全科学

张勇,崔行磊,周学,陈默,翟国富..稳定燃弧条件下继电器触头蒸发侵蚀特性的研究[J].电器与能效管理技术,2016,(15):32-39,8.

国家自然科学青年基金资助项目(51307030) （51307030）

ISSN：2095-8188

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