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等静压95%氧化铝陶瓷管壳常见缺陷分析

朴文博 李晓光

真空电子技术Issue(4):38-41,4.
真空电子技术Issue(4):38-41,4.

等静压95%氧化铝陶瓷管壳常见缺陷分析

Common Defects Analysis of 95% Alumina Ceramic Housing Manufactured by Isostatic Pressing Technology

朴文博 1李晓光1

作者信息

  • 1. 北京真空电子技术研究所,北京100015
  • 折叠

摘要

关键词

氧化铝陶瓷/等静压成型/缺陷

Key words

Alumina ceramic/Isostatic pressing technology/Defect

引用本文复制引用

朴文博,李晓光..等静压95%氧化铝陶瓷管壳常见缺陷分析[J].真空电子技术,2016,(4):38-41,4.

真空电子技术

1002-8935

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