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多芯片组件BGA-垂直通孔结构参数对信号传输特性的影响

周保林 周德俭 卢杨

桂林电子科技大学学报2016,Vol.36Issue(4):289-293,5.
桂林电子科技大学学报2016,Vol.36Issue(4):289-293,5.

多芯片组件BGA-垂直通孔结构参数对信号传输特性的影响

Influence of MCM BGA-via structure parameters on signal transmission characteristics

周保林 1周德俭 1卢杨1

作者信息

  • 1. 桂林电子科技大学机电工程学院,广西桂林541004
  • 折叠

摘要

关键词

多芯片组件/结构参数/BGA焊点/反焊盘/垂直通孔/回波损耗

Key words

multi-chip module/structure parameter/BGA solder joint/anti-pad/vertical via/return loss

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周保林,周德俭,卢杨..多芯片组件BGA-垂直通孔结构参数对信号传输特性的影响[J].桂林电子科技大学学报,2016,36(4):289-293,5.

基金项目

国防973项目“多能量* * *研究” ()

桂林电子科技大学学报

1673-808X

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