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继电器贮存失效机理及可靠性试验方法综述

符赛 王召斌 尚尚

电器与能效管理技术Issue(16):13-19,7.
电器与能效管理技术Issue(16):13-19,7.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2016.16.003

继电器贮存失效机理及可靠性试验方法综述

Review of Relay Storage Failure Mechanisms and Reliability Test Methods

符赛 1王召斌 1尚尚2

作者信息

  • 1. 江苏科技大学电子信息学院,江苏镇江212003
  • 2. 浙江理工大学机械工程博士后科研流动站,浙江杭州310018
  • 折叠

摘要

关键词

继电器/贮存可靠性/失效机理/加速贮存试验

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

符赛,王召斌,尚尚..继电器贮存失效机理及可靠性试验方法综述[J].电器与能效管理技术,2016,(16):13-19,7.

基金项目

国家自然科基金资助项目(51507074) (51507074)

江苏省高校自然科学研究面上资助项目(15KJB470003) (15KJB470003)

中国博士后科学基金资助项目(2015M571898) (2015M571898)

机械工程浙江省重中之重学科和浙江理工大学重点试验室开放基金资助项目(ZSTUME01A02) (ZSTUME01A02)

电器与能效管理技术

2095-8188

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