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工艺偏差对干式空心电抗器局部温升的影响分析研究

王岩 谭向宇 束洪春 陈晶 郭小兵 吴彦霖 张轩 王永红

高压电器2016,Vol.52Issue(10):182-186,5.
高压电器2016,Vol.52Issue(10):182-186,5.DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2016.10.031

工艺偏差对干式空心电抗器局部温升的影响分析研究

Impact of Process Parameter Variation on Temperature Rise of Dry-type Air-core Shunt Reactor

王岩 1谭向宇 2束洪春 1陈晶 2郭小兵 1吴彦霖 1张轩 2王永红1

作者信息

  • 1. 云南电网公司研究生工作站,昆明650217
  • 2. 昆明理工大学,昆明650500
  • 折叠

摘要

关键词

干式空心电抗器/工艺偏差/包封/局部/温升

Key words

dry-type air-core shunt reactor/process parameter deviation/encapsulation/local/temperature rise

引用本文复制引用

王岩,谭向宇,束洪春,陈晶,郭小兵,吴彦霖,张轩,王永红..工艺偏差对干式空心电抗器局部温升的影响分析研究[J].高压电器,2016,52(10):182-186,5.

高压电器

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-1609

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