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一起500kV HGIS CT受潮导致绝缘降低缺陷的分析

杨世博胡伟涛白剑忠王绪王伟

电气技术Issue(10)：149-151,3.

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电气技术Issue(10)：149-151,3.

一起500kV HGIS CT受潮导致绝缘降低缺陷的分析

杨世博 ¹胡伟涛 ¹白剑忠 ¹王绪 ¹王伟¹

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1. 国网河北省电力公司检修分公司,石家庄 050070
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HGIS/CT/受潮/分析处理

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杨世博,胡伟涛,白剑忠,王绪,王伟..一起500kV HGIS CT受潮导致绝缘降低缺陷的分析[J].电气技术,2016,(10):149-151,3.

电气技术

ISSN：1673-3800

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