电子科技2016,Vol.29Issue(11):78-80,3.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2016.11.023
基于HALCON的刹车片尺寸和表面缺陷检测系统
Size and Defect Detection System of Brake Based on HALCON
左东祥 1陈晓荣1
作者信息
- 1. 上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093
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摘要
关键词
HALCON/边缘提取/阈值分割/尺寸检测/缺陷检测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
左东祥,陈晓荣..基于HALCON的刹车片尺寸和表面缺陷检测系统[J].电子科技,2016,29(11):78-80,3.