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基于HALCON的刹车片尺寸和表面缺陷检测系统

左东祥 陈晓荣

电子科技2016,Vol.29Issue(11):78-80,3.
电子科技2016,Vol.29Issue(11):78-80,3.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2016.11.023

基于HALCON的刹车片尺寸和表面缺陷检测系统

Size and Defect Detection System of Brake Based on HALCON

左东祥 1陈晓荣1

作者信息

  • 1. 上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093
  • 折叠

摘要

关键词

HALCON/边缘提取/阈值分割/尺寸检测/缺陷检测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

左东祥,陈晓荣..基于HALCON的刹车片尺寸和表面缺陷检测系统[J].电子科技,2016,29(11):78-80,3.

电子科技

1007-7820

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