电源学报2016，Vol.14Issue(6)：108-121,14.DOI:10.13234/j.issn.2095-2805.2016.6.108
功率MOSFET寿命模型综述
Review of MOSFET Lifetime Model
摘要
关键词
MOSFET/寿命模型/封装失效/参数漂移失效分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
查晓明,刘悦遐,黄萌,刘懿..功率MOSFET寿命模型综述[J].电源学报,2016,14(6):108-121,14.基金项目
国家自然科学基金重点资助项目(51637007) （51637007）
国家自然科学基金资助青年项目(51507118) （51507118）
