微型机与应用2016，Vol.35Issue(20)：31-33,3.DOI:10.19358/j.issn.1674-7720.2016.20.008
浅析IC测试开发流程及量产数据对产品设计的影响
Simply analysing the influence of integrated circuit test development process and production data on production design
伍凤娟 1王媛媛1
作者信息
- 1. 西安科技大学电气与控制工程学院,陕西西安710054
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摘要
关键词
半导体/集成电路测试/量产数据/产品工艺分类
电子信息工程引用本文复制引用
伍凤娟,王媛媛..浅析IC测试开发流程及量产数据对产品设计的影响[J].微型机与应用,2016,35(20):31-33,3.
