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脉冲电压下压力对交联聚乙烯-硅橡胶界面电痕破坏的影响

张朕滔张雷谭宇航周基勋马占东杨京

重庆理工大学学报（自然科学版）2016，Vol.30Issue(10)：141-146,180,7.

重庆理工大学学报（自然科学版）2016，Vol.30Issue(10)：141-146,180,7.DOI:10.3969/j.issn.1674-8425(z).2016.10.022

Influence of Pressure on Destruction of Crosslinked Polyethylene-Silicone Rubber Interface Electric Mark Under Pulse Voltage

张朕滔 ¹张雷 ²谭宇航 ³周基勋 ¹马占东 ¹杨京¹

作者信息

交联聚乙烯/接头/电痕/放电光/炭化

crosslinked polyethylene/joint/tracking/discharge light/carbonization

计算机与自动化

张朕滔,张雷,谭宇航,周基勋,马占东,杨京..脉冲电压下压力对交联聚乙烯-硅橡胶界面电痕破坏的影响[J].重庆理工大学学报（自然科学版）,2016,30(10):141-146,180,7.

重庆理工大学研究生创新基金资助项目(YCX2013217) （YCX2013217）

OACSTPCD

ISSN：1674-8425

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