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基于102F实测热红外光谱的富硅类岩石SiO2含量定量反演

杜锦锦 王俊虎 郎朋林

世界核地质科学2016,Vol.33Issue(4):216-222,7.
世界核地质科学2016,Vol.33Issue(4):216-222,7.DOI:10.3969/j.issn.1672-0636.2016.04.005

基于102F实测热红外光谱的富硅类岩石SiO2含量定量反演

Quantitative inversion of SiO2 contents in silicon rich rocks based on measured 102F thermal infrared spectra

杜锦锦 1王俊虎 2郎朋林2

作者信息

  • 1. 中国地质大学(北京),北京100083
  • 2. 核工业北京地质研究院,北京100029
  • 折叠

摘要

关键词

发射光谱/富硅类岩石/SiO2含量/定量反演

分类

天文与地球科学

引用本文复制引用

杜锦锦,王俊虎,郎朋林..基于102F实测热红外光谱的富硅类岩石SiO2含量定量反演[J].世界核地质科学,2016,33(4):216-222,7.

世界核地质科学

1672-0636

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