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基于60 nm T型栅fT & fmax为170 & 210 GHz的InAlN/GaN HFETs器件

吕元杰 冯志红 张志荣 宋旭波 谭鑫 郭红雨 尹甲运 房玉龙 蔡树军

红外与毫米波学报2016,Vol.35Issue(6):641-645,5.
红外与毫米波学报2016,Vol.35Issue(6):641-645,5.DOI:10.11972/j.issn.1001-9014.2016.06.001

基于60 nm T型栅fT & fmax为170 & 210 GHz的InAlN/GaN HFETs器件

60 nm T-shaped-gate InAlN/GaN HFETs with fT & fmax of 170 & 210 GHz

吕元杰 1冯志红 1张志荣 1宋旭波 1谭鑫 1郭红雨 1尹甲运 1房玉龙 1蔡树军1

作者信息

  • 1. 河北半导体研究所专用集成电路国家级重点实验室,河北石家庄050051
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摘要

关键词

InAlN/GaN/异质结场效应晶体管(HFETs)/电流增益截止频率(fT)/最大振荡频率(fmax)

Key words

InAlN/GaN/heterostructure field-effect transistors (HFET)/unity current gain cut-off frequency (fT)/maximum oscillation frequency(fmax)

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

吕元杰,冯志红,张志荣,宋旭波,谭鑫,郭红雨,尹甲运,房玉龙,蔡树军..基于60 nm T型栅fT & fmax为170 & 210 GHz的InAlN/GaN HFETs器件[J].红外与毫米波学报,2016,35(6):641-645,5.

基金项目

Supported by National Natural Science Foundation of China (61306113) (61306113)

红外与毫米波学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1001-9014

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