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光学薄膜参数测量方法研究进展

王多书 李凯朋 李佑路 王济洲 董茂进 熊玉卿

中国科技成果2016,Vol.17Issue(24):62-63,68,3.
中国科技成果2016,Vol.17Issue(24):62-63,68,3.DOI:10.3772/j.issn.1009-5659.2016.24.026

光学薄膜参数测量方法研究进展

王多书 1李凯朋 1李佑路 1王济洲 1董茂进 1熊玉卿1

作者信息

  • 1. 真空技术与物理重点实验室/兰州空间技术物理研究所,甘肃 兰州 730000
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摘要

关键词

光学薄膜参数/反演/测量方法

引用本文复制引用

王多书,李凯朋,李佑路,王济洲,董茂进,熊玉卿..光学薄膜参数测量方法研究进展[J].中国科技成果,2016,17(24):62-63,68,3.

中国科技成果

1009-5659

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