微型机与应用2017，Vol.36Issue(1)：32-34,3.DOI:10.19358/j.issn.1674-7720.2017.01.010
基于STM32的偏振相关损耗测量系统设计
The design of polarization dependent loss measurement system based on STM 32
徐宏宇 1刘潇1
作者信息
- 1. 沈阳航空航天大学研究生院,辽宁沈阳110136
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摘要
关键词
偏振相关损耗/STM32F407ZG/偏振控制器/测量系统分类
计算机与自动化引用本文复制引用
徐宏宇,刘潇..基于STM32的偏振相关损耗测量系统设计[J].微型机与应用,2017,36(1):32-34,3.
