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液晶介电常数在微波至太赫兹频段测试技术

葛忆 叶明旭 杨军 邓光晟 尹治平 桑磊

电子科技2017,Vol.30Issue(4):123-127,5.
电子科技2017,Vol.30Issue(4):123-127,5.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2017.04.031

液晶介电常数在微波至太赫兹频段测试技术

Techniques for the Measurement of Permittivity of Liquid Crystals at Millimeter-wave to Terahertz Frequencies

葛忆 1叶明旭 2杨军 2邓光晟 2尹治平 2桑磊2

作者信息

  • 1. 合肥工业大学计算机与信息学院,安徽合肥230009
  • 2. 合肥工业大学光电技术研究院,安徽合肥230009
  • 折叠

摘要

关键词

介电特性/太赫兹/移相器/液晶材料/介电常数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

葛忆,叶明旭,杨军,邓光晟,尹治平,桑磊..液晶介电常数在微波至太赫兹频段测试技术[J].电子科技,2017,30(4):123-127,5.

电子科技

1007-7820

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