| 注册
首页|期刊导航|电瓷避雷器|基于DEM-CFD耦合的绝缘子表面动态积污特性的研究

基于DEM-CFD耦合的绝缘子表面动态积污特性的研究

孙海振 王国志 吴文海 柯坚

电瓷避雷器Issue(2):134-140,7.
电瓷避雷器Issue(2):134-140,7.DOI:10.16188/j.isa.1003-8337.2017.02.026

基于DEM-CFD耦合的绝缘子表面动态积污特性的研究

Study on Dynamic Contamination Depositing Characteristics of Insulators Surface Based on Coupled DEM and CFD Methods

孙海振 1王国志 1吴文海 1柯坚1

作者信息

  • 1. 西南交通大学机械工程学院,成都610031
  • 折叠

摘要

关键词

DEM-CFD耦合/接触粘附/聚团/风力清除/表面积污率/严重度系数

引用本文复制引用

孙海振,王国志,吴文海,柯坚..基于DEM-CFD耦合的绝缘子表面动态积污特性的研究[J].电瓷避雷器,2017,(2):134-140,7.

电瓷避雷器

OA北大核心

1003-8337

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文