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极化码在衰落信道中的性能分析

陈文强 戴曙光

软件导刊2017，Vol.16Issue(7)：23-25,3.
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软件导刊2017，Vol.16Issue(7)：23-25,3.DOI:10.11907/rjdk.171241

极化码在衰落信道中的性能分析

陈文强 1戴曙光1

作者信息

  • 1. 上海理工大学 光电信息与计算机工程学院,上海 200093
  • 折叠

摘要

关键词

极化现象/极化编码/SC译码/衰落信道

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈文强,戴曙光..极化码在衰落信道中的性能分析[J].软件导刊,2017,16(7):23-25,3.

软件导刊

1672-7800

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