数字技术与应用Issue(5)：194-195,201,3.
GaN HEMT小信号自动测试系统设计
Design of GaN HEMT Small-Signal Automatic Test System
马杰 1杨志虎 1付兴中 1张力江 1崔玉兴1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄 050051
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摘要
关键词
Agilent VEE/微波小信号测试/等效电路参数/自动测试系统分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
马杰,杨志虎,付兴中,张力江,崔玉兴..GaN HEMT小信号自动测试系统设计[J].数字技术与应用,2017,(5):194-195,201,3.
