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28 nm Xilinx Zynq-7000系统芯片单粒子效应研究进展

杜雪成 贺朝会 刘书焕 张瑶 李永宏 杨卫涛 任晓堂

现代应用物理2017,Vol.8Issue(2):30-35,6.
现代应用物理2017,Vol.8Issue(2):30-35,6.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2017.020202

28 nm Xilinx Zynq-7000系统芯片单粒子效应研究进展

Research Progress of Single Event Effects on 28 nm Xilinx Zynq-7000 System-on-Chip

杜雪成 1贺朝会 1刘书焕 1张瑶 1李永宏 1杨卫涛 1任晓堂2

作者信息

  • 1. 西安交通大学,西安710049
  • 2. 北京大学核物理与核技术国家重点实验室,北京100871
  • 折叠

摘要

关键词

系统芯片/单粒子效应/α粒子/质子/故障注入

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杜雪成,贺朝会,刘书焕,张瑶,李永宏,杨卫涛,任晓堂..28 nm Xilinx Zynq-7000系统芯片单粒子效应研究进展[J].现代应用物理,2017,8(2):30-35,6.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(11575138) (11575138)

现代应用物理

2095-6223

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