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基于单片机的SF6密度表校验仪的设计

周皓 冯明超 薛炎

科技创新与应用Issue(36)：69-70,72,3.
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科技创新与应用Issue(36)：69-70,72,3.

基于单片机的SF6密度表校验仪的设计

周皓 1冯明超 2薛炎2

作者信息

  • 1. 苏州健雄职业技术学院,江苏 太仓 215411
  • 2. 苏州迈创信息技术有限公司,江苏 太仓 215411
  • 折叠

摘要

关键词

STC89C51单片机/SF6气体/密度继电器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周皓,冯明超,薛炎..基于单片机的SF6密度表校验仪的设计[J].科技创新与应用,2017,(36):69-70,72,3.

科技创新与应用

2095-2945

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