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基于单片机控制的光强测试器的设计

刘会巧

数字技术与应用Issue(8)：3-4,2.
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数字技术与应用Issue(8)：3-4,2.

基于单片机控制的光强测试器的设计

Design of Light Intensity Tester Based on Single Chip Microcomputer

刘会巧1

作者信息

  • 1. 天津理工大学中环信息学院,天津300380
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摘要

关键词

单片机/光敏电阻/光照强度/等级

分类

信息技术与安全科学

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刘会巧..基于单片机控制的光强测试器的设计[J].数字技术与应用,2017,(8):3-4,2.

数字技术与应用

1007-9416

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