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基于卷积神经网络的电路缺陷识别方法

何俊杰 肖可 刘畅 陈松岩

福建电脑2018,Vol.34Issue(2):9-11,3.
福建电脑2018,Vol.34Issue(2):9-11,3.DOI:10.16707/j.cnki.fjpc.2018.02.004

基于卷积神经网络的电路缺陷识别方法

何俊杰 1肖可 1刘畅 1陈松岩1

作者信息

  • 1. 厦门大学 物理科学与技术学院 福建 厦门 361001
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摘要

关键词

缺陷检测/神经网络/深度学习

引用本文复制引用

何俊杰,肖可,刘畅,陈松岩..基于卷积神经网络的电路缺陷识别方法[J].福建电脑,2018,34(2):9-11,3.

基金项目

福建省高校产学合作项目(No.2016H6026) (No.2016H6026)

福建电脑

1673-2782

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