舰船电子工程2018，Vol.38Issue(3)：62-67,6.DOI:10.3969/j.issn.1672-9730.2018.03.014
基于TD-LTE UE侧随机接入过程的研究与分析
Research and Analysis of TD-LTE Random Access Process by the UE Side
彭迪 1何健2
作者信息
- 1. 武汉邮电科学研究院 武汉 430072
- 2. 武汉虹旭信息技术有限责任公司 武汉 430205
- 折叠
摘要
关键词
随机接入/前导码/PRACH信道/竞争解决分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
彭迪,何健..基于TD-LTE UE侧随机接入过程的研究与分析[J].舰船电子工程,2018,38(3):62-67,6.
