| 注册
首页|期刊导航|现代应用物理|基于热像素的CCD电荷转移效率在轨测试方法

基于热像素的CCD电荷转移效率在轨测试方法

冯婕 文林 李豫东 郭旗

现代应用物理2017,Vol.8Issue(4):63-67,5.
现代应用物理2017,Vol.8Issue(4):63-67,5.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2017.040609

基于热像素的CCD电荷转移效率在轨测试方法

On-Orbit Testing Method of CCD Charge Transfer Efficiency Based on Hot Pixels

冯婕 1文林 2李豫东 3郭旗4

作者信息

  • 1. 中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室,乌鲁木齐830011
  • 2. 新疆电子信息材料与器件重点实验室,乌鲁木齐830011
  • 3. 中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐830011
  • 折叠

摘要

关键词

CCD/电荷转移效率/在轨测试/热像素/实时测量

分类

数理科学

引用本文复制引用

冯婕,文林,李豫东,郭旗..基于热像素的CCD电荷转移效率在轨测试方法[J].现代应用物理,2017,8(4):63-67,5.

现代应用物理

2095-6223

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文