现代应用物理2018，Vol.9Issue(1)：82-87,6.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2018.010601
电路级模拟技术在SRAM型FPGA总剂量效应敏感性预测中的应用
Application of Circuit Simulation to Total Ionizing Dose Effects Prediction of SRAM-Based FPGA
摘要
关键词
电子器件/总剂量效应/试验技术/电路模拟/敏感性预测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
郭红霞,丁李利,范如玉,姚志斌,罗尹虹,张凤祁,张科营,赵雯..电路级模拟技术在SRAM型FPGA总剂量效应敏感性预测中的应用[J].现代应用物理,2018,9(1):82-87,6.基金项目
国家自然科学基金资助项目(11690043 （）
11605138 （）
61634008) （）
