数字技术与应用2018，Vol.36Issue(4)：212-213,2.DOI:10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.04.107
FLASH写溢出功能测试与问题分析
Testing Method for FLASH Writing-over
宁静 1刘国斌 1祝周荣 1刘伟 1陈云1
作者信息
- 1. 上海航天软件测评中心,上海 201109
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摘要
关键词
FLASH/自动写停/擦除操作/FPGA分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
宁静,刘国斌,祝周荣,刘伟,陈云..FLASH写溢出功能测试与问题分析[J].数字技术与应用,2018,36(4):212-213,2.
