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电子元器件银离子迁移评价方法的探究
电子元器件银离子迁移评价方法的探究
鲍建科
家电科技
Issue(7)：84-87,90,5.
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家电科技
Issue(7)
：84-87,90,5.
电子元器件银离子迁移评价方法的探究
A study on evaluation method of electronic components for the silver ion migration
鲍建科
1
作者信息
1.
松下家电研究开发(杭州)有限公司 浙江杭州 310018
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摘要
关键词
银离子迁移
/
加速试验
/
故障解析
/
再发防止
引用本文
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鲍建科..电子元器件银离子迁移评价方法的探究[J].家电科技,2018,(7):84-87,90,5.
家电科技
ISSN：
1672-0172
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