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线性位移台直线度高精密外差干涉测量装置

金涛 刘景林 杨卫 乐燕芬 侯文玫

光学精密工程2018,Vol.26Issue(7):1570-1577,8.
光学精密工程2018,Vol.26Issue(7):1570-1577,8.DOI:10.3788/OPE.20182607.1570

线性位移台直线度高精密外差干涉测量装置

High-precision straightness interferometer for linear moving stage

金涛 1刘景林 1杨卫 2乐燕芬 1侯文玫1

作者信息

  • 1. 上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093
  • 2. 普爱纳米位移技术(上海)有限公司,上海201203
  • 折叠

摘要

关键词

测试计量技术及仪器/直线度测量/外差激光干涉/阿贝误差

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

金涛,刘景林,杨卫,乐燕芬,侯文玫..线性位移台直线度高精密外差干涉测量装置[J].光学精密工程,2018,26(7):1570-1577,8.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(No.51075280,No.51705324) (No.51075280,No.51705324)

上海市自然基金资助项目(No. 16ZR1423000) (No. 16ZR1423000)

国家自然科学基金中德合作研究中心项目(No.GZ1287) (No.GZ1287)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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