计算机与现代化Issue(7):33-38,6.DOI:10.3969/j.issn.1006-2475.2018.07.007
基于区域神经网络的TFT-LCD电路缺陷检测方法
TFT-LCD Circuit Defects Detection Based on Faster R-CNN
摘要
关键词
缺陷检测/工业智能/基于区域的卷积神经网络/深度学习分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
何俊杰,肖可,刘畅,陈松岩..基于区域神经网络的TFT-LCD电路缺陷检测方法[J].计算机与现代化,2018,(7):33-38,6.基金项目
福建省高校产学合作项目(2016H6026) (2016H6026)