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基于区域神经网络的TFT-LCD电路缺陷检测方法

何俊杰 肖可 刘畅 陈松岩

计算机与现代化Issue(7):33-38,6.
计算机与现代化Issue(7):33-38,6.DOI:10.3969/j.issn.1006-2475.2018.07.007

基于区域神经网络的TFT-LCD电路缺陷检测方法

TFT-LCD Circuit Defects Detection Based on Faster R-CNN

何俊杰 1肖可 1刘畅 1陈松岩1

作者信息

  • 1. 厦门大学物理科学与技术学院,福建 厦门 361001
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摘要

关键词

缺陷检测/工业智能/基于区域的卷积神经网络/深度学习

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

何俊杰,肖可,刘畅,陈松岩..基于区域神经网络的TFT-LCD电路缺陷检测方法[J].计算机与现代化,2018,(7):33-38,6.

基金项目

福建省高校产学合作项目(2016H6026) (2016H6026)

计算机与现代化

OACSTPCD

1006-2475

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