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基于Au/TiO2/FTO结构忆阻器的开关特性 与机理研究

余志强 刘敏丽 郎建勋 钱楷 张昌华

物理学报2018,Vol.67Issue(15):111-120,10.
物理学报2018,Vol.67Issue(15):111-120,10.DOI:10.7498/aps.67.20180425

基于Au/TiO2/FTO结构忆阻器的开关特性 与机理研究

Resistive switching characteristics and resistive switching mechanism of Au/TiO2/FTO memristor

余志强 1刘敏丽 2郎建勋 1钱楷 1张昌华2

作者信息

  • 1. 湖北民族学院电气工程系, 恩施 445000
  • 2. 华中科技大学光学与电子信息学院, 武汉 430074
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摘要

关键词

TiO2纳米线/忆阻器/氧空位/导电细丝

引用本文复制引用

余志强,刘敏丽,郎建勋,钱楷,张昌华..基于Au/TiO2/FTO结构忆阻器的开关特性 与机理研究[J].物理学报,2018,67(15):111-120,10.

基金项目

国家自然科学基金(批准号: 61463014)、湖北省教育厅科学技术研究项目(批准号: B2018087)和湖北民族学院博士启动基金(批准号: MY2018B016)资助的课题. (批准号: 61463014)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-3290

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