现代电子技术2018，Vol.41Issue(16)：5-8,12,5.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2018.16.002
基于LabVIEW的排阻老化电阻值测试系统
A LabVIEW-based system for testing resistance values during pack resistor aging
田恬 1肖仕武1
作者信息
- 1. 华北电力大学 电气与电子工程学院,北京 102206
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摘要
关键词
电阻值/老化/排阻/LabVIEW/数字万用表/测试效率分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
田恬,肖仕武..基于LabVIEW的排阻老化电阻值测试系统[J].现代电子技术,2018,41(16):5-8,12,5.
