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铜包铝高频线圈损耗的理论计算方法

刘骥 张明泽 廖俐琳 高欢 朱东柏 陈昕

电工技术学报2018，Vol.33Issue(14)：3160-3169,10.
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电工技术学报2018，Vol.33Issue(14)：3160-3169,10.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.170645

铜包铝高频线圈损耗的理论计算方法

Theoretical Calculation on High-Frequency Loss of Copper Clad Aluminum Coil

刘骥 1张明泽 2廖俐琳 1高欢 2朱东柏 1陈昕3

作者信息

  • 1. 哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室 哈尔滨 150080
  • 2. 哈尔滨理工大学电介质工程国家重点实验室培育基地 哈尔滨 150080
  • 3. 上海电缆研究所有限公司 上海 200093
  • 折叠

摘要

关键词

铜包铝导线/趋肤效应/邻近效应/高频损耗/解析计算

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘骥,张明泽,廖俐琳,高欢,朱东柏,陈昕..铜包铝高频线圈损耗的理论计算方法[J].电工技术学报,2018,33(14):3160-3169,10.

基金项目

国家重点研发计划资助项目(2017YFB0902705). （2017YFB0902705）

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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