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基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法

李亚萍 周雒维 孙鹏菊 彭英舟 蔡杰

电工技术学报2018，Vol.33Issue(14)：3202-3212,11.
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电工技术学报2018，Vol.33Issue(14)：3202-3212,11.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.170779

基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法

Condition Monitoring for IGBT Module Aging Failure on VCE(on) under Certain IC Conditions

李亚萍 1周雒维 2孙鹏菊 1彭英舟 1蔡杰1

作者信息

  • 1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学) 重庆 400044
  • 2. 石河子大学机械电气工程学院 石河子 832000
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摘要

关键词

可靠性/老化/失效/状态监测/IGBT模块

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李亚萍,周雒维,孙鹏菊,彭英舟,蔡杰..基于特定集电极电流下饱和压降的IGBT模块老化失效状态监测方法[J].电工技术学报,2018,33(14):3202-3212,11.

基金项目

国家自然科学基金重点项目资助(51137006). （51137006）

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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