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基于“U”型测试转台的集束美化天线测量系统

王杏林 李耿

电子科技2018,Vol.31Issue(7):38-41,4.
电子科技2018,Vol.31Issue(7):38-41,4.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2018.07.011

基于“U”型测试转台的集束美化天线测量系统

A New Measurement System based on the "U" Type Turntable for Cluster Beautified Antenna

王杏林 1李耿1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十四研究所检测认证中心,河北石家庄050081
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摘要

关键词

集束美化天线/远场测试系统/“U”型测试转台/相位中心偏移

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王杏林,李耿..基于“U”型测试转台的集束美化天线测量系统[J].电子科技,2018,31(7):38-41,4.

基金项目

电子信息产业发展基金项目(ZX155100019) (ZX155100019)

电子科技

1007-7820

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