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Bi(110)薄膜在NbSe2衬底上的扫描隧道显微镜研究

刘建宇孙昊桦管丹丹李耀义王世勇刘灿华郑浩贾金锋

物理学报2018，Vol.67Issue(17)：37-44,8.

物理学报2018，Vol.67Issue(17)：37-44,8.DOI:10.7498/aps.67.20180977

Bi(110)薄膜在NbSe2衬底上的扫描隧道显微镜研究

Scanning tunneling microscopy research of Bi(110)thin films grown on NbSe2

刘建宇 ¹孙昊桦 ¹管丹丹 ¹李耀义 ²王世勇 ¹刘灿华 ²郑浩 ¹贾金锋²

作者信息

1. 上海交通大学物理与天文学院, 人工结构及量子调控教育部重点实验室, 上海 200240
2. 人工微结构科学与技术协同创新中心, 南京 210093
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摘要

关键词

铋薄膜/拓扑绝缘体/近邻效应/量子阱态

引用本文复制引用

刘建宇,孙昊桦,管丹丹,李耀义,王世勇,刘灿华,郑浩,贾金锋..Bi(110)薄膜在NbSe2衬底上的扫描隧道显微镜研究[J].物理学报,2018,67(17):37-44,8.

基金项目

国家重点基础研究发展计划(批准号:2016YFA0301003,2016YFA0300403)、国家自然科学基金(批准号:11521404,11634009,U1632102,11504230,11674222,11574202,11674226,11574201,U1632272,11655002)和上海市科学技术委员会(批准号:16DZ2260200)资助的课题. （批准号:2016YFA0301003,2016YFA0300403）

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

ISSN：1000-3290

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