|国家科技期刊平台

首页|期刊导航|现代信息科技|浅析微电子器件静电损伤的测试

浅析微电子器件静电损伤的测试

杨嗣帅

现代信息科技2018，Vol.2Issue(8)：66-67,70,3.

✕

现代信息科技2018，Vol.2Issue(8)：66-67,70,3.

浅析微电子器件静电损伤的测试

Analysis of the Test of Electrostatic Damage in Microelectronic Devices

杨嗣帅¹

作者信息

1. 池州学院,安徽池州 247000
折叠

摘要

关键词

微电子器件/静电损伤/放电模型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

杨嗣帅..浅析微电子器件静电损伤的测试[J].现代信息科技,2018,2(8):66-67,70,3.

现代信息科技

ISSN：2096-4706

访问量0

|

下载量0

段落导航

相关论文

摘要
关键词
分类
引用文本