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基于X-ray透射成像的稻穗米粒粒型及谷粒饱满度测量

黄成龙 杨万能 吴迪 段凌凤

中国农业科技导报2018,Vol.20Issue(8):46-53,8.
中国农业科技导报2018,Vol.20Issue(8):46-53,8.DOI:10.13304/j.nykjdb.2017.0614

基于X-ray透射成像的稻穗米粒粒型及谷粒饱满度测量

Grain Size and Filling Degree Extraction for Rice Panicle Based on X-ray Imaging

黄成龙 1杨万能 1吴迪 2段凌凤1

作者信息

  • 1. 华中农业大学工学院,武汉430070
  • 2. 华中农业大学作物遗传改良国家重点实验室,武汉430070
  • 折叠

摘要

关键词

X射线/稻穗/米粒粒型/谷粒饱满度

分类

农业科技

引用本文复制引用

黄成龙,杨万能,吴迪,段凌凤..基于X-ray透射成像的稻穗米粒粒型及谷粒饱满度测量[J].中国农业科技导报,2018,20(8):46-53,8.

基金项目

国家自然科学基金项目(31600287) (31600287)

中央高校基本科研业务费项目(2662018JC005) (2662018JC005)

湖北省科研条件与资源研究开发项目(2015BCE044)资助. (2015BCE044)

中国农业科技导报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1008-0864

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