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MCU芯片验证中的USB模块批量传输验证

宁振海 赵东艳 唐晓柯 李德建 杨立新 白志华

单片机与嵌入式系统应用2018,Vol.18Issue(10):4-7,4.
单片机与嵌入式系统应用2018,Vol.18Issue(10):4-7,4.

MCU芯片验证中的USB模块批量传输验证

Bulk Transmission Verification of USB Module in MCU Chip Verification

宁振海 1赵东艳 2唐晓柯 1李德建 1杨立新 1白志华1

作者信息

  • 1. 北京智芯微电子科技有限公司 国家电网公司重点实验室 电力芯片设计分析实验室,北京 100192
  • 2. 北京智芯微电子科技有限公司 北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心
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摘要

关键词

USB/芯片验证/批量传输

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

宁振海,赵东艳,唐晓柯,李德建,杨立新,白志华..MCU芯片验证中的USB模块批量传输验证[J].单片机与嵌入式系统应用,2018,18(10):4-7,4.

单片机与嵌入式系统应用

OACSTPCD

1009-623X

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