| 注册
首页|期刊导航|电子科技|应变Si NMOSFET总剂量效应

应变Si NMOSFET总剂量效应

廖晨光 郝敏如

电子科技2018,Vol.31Issue(9):1-3,17,4.
电子科技2018,Vol.31Issue(9):1-3,17,4.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2018.09.001

应变Si NMOSFET总剂量效应

Total Dose Radiation Effect in Uniaxial Strained Si NMOSFET

廖晨光 1郝敏如1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子学院,陕西西安710071
  • 折叠

摘要

关键词

总剂量/阈值电压/隧穿/热载流子/栅电流

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

廖晨光,郝敏如..应变Si NMOSFET总剂量效应[J].电子科技,2018,31(9):1-3,17,4.

基金项目

陕西省科技计划项目(2016GY-085) (2016GY-085)

电子科技

1007-7820

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文