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基于改进粒子群优化算法nMOSFET寿命预测

曹建生 李凯群

电子器件2018,Vol.41Issue(5):1119-1123,5.
电子器件2018,Vol.41Issue(5):1119-1123,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2018.05.008

基于改进粒子群优化算法nMOSFET寿命预测

Life Prediction of nMOSFET Based on MPSO BP Neural Network

曹建生 1李凯群2

作者信息

  • 1. 河南工业职业技术学院电子信息工程系,河南 南阳473009
  • 2. 华中科技大学电气与电子工程学院,武汉430074
  • 折叠

摘要

关键词

电子器件/寿命预测/改进粒子群优化算法/BP神经网络

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

曹建生,李凯群..基于改进粒子群优化算法nMOSFET寿命预测[J].电子器件,2018,41(5):1119-1123,5.

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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