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基于二维PIC-DSMC耦合算法的真空沿面闪络形成过程的等离子体演化特性

徐翱 金大志 程焰林 陈磊 谈效华

高电压技术2018,Vol.44Issue(9):3001-3008,8.
高电压技术2018,Vol.44Issue(9):3001-3008,8.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20180828030

基于二维PIC-DSMC耦合算法的真空沿面闪络形成过程的等离子体演化特性

Plasma Evolution of Surface Flashover Form Process in Vacuum by 2D PIC-DSMC Code

徐翱 1金大志 1程焰林 1陈磊 1谈效华1

作者信息

  • 1. 中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳621999
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摘要

关键词

沿面闪络/绝缘体/等离子体/场致发射/模拟

引用本文复制引用

徐翱,金大志,程焰林,陈磊,谈效华..基于二维PIC-DSMC耦合算法的真空沿面闪络形成过程的等离子体演化特性[J].高电压技术,2018,44(9):3001-3008,8.

基金项目

中国工程物理研究院科学技术发展基金(2015B0102013) (2015B0102013)

中国工程物理研究院电子工程研究所科技创新基金(S20150807). (S20150807)

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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