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高压有机片式钽电容器高温可靠性研究

田东斌 潘齐凤 张选红 马建华 刘桥 杨邦朝

电子科技大学学报2018，Vol.47Issue(5)：761-765,5.
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电子科技大学学报2018，Vol.47Issue(5)：761-765,5.DOI:10.3969/j.issn.1001-0548.2018.05.019

高压有机片式钽电容器高温可靠性研究

Research of High Temperature Reliability of High Voltage Organic Chip Tantalum Capacitors

田东斌 1潘齐凤 2张选红 1马建华 1刘桥 3杨邦朝2

作者信息

  • 1. 中国振华(集团)新云电子元器件有效责任公司 贵阳 550018
  • 2. 贵州大学大数据与信息工程学院 贵阳 550025
  • 3. 中国振华电子集团有限公司 贵阳 550018
  • 折叠

摘要

关键词

高温可靠性/高压/聚三四乙烯基二氧噻吩/钽电容器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

田东斌,潘齐凤,张选红,马建华,刘桥,杨邦朝..高压有机片式钽电容器高温可靠性研究[J].电子科技大学学报,2018,47(5):761-765,5.

基金项目

贵州省工业和信息化发展专项资金计划第一批技术创新项目(2017022) （2017022）

贵州省科学技术计划项目(黔科合:[2016]-2039) （黔科合:[2016]-2039）

电子科技大学学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-0548

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