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浅谈微电子器件的可靠性

李晓松

现代信息科技2018,Vol.2Issue(10):54-55,2.
现代信息科技2018,Vol.2Issue(10):54-55,2.

浅谈微电子器件的可靠性

Discussion on the Reliability of Microelectronic Devices

李晓松1

作者信息

  • 1. 池州学院,安徽池州 247000
  • 折叠

摘要

关键词

微电子器件/可靠性/热载流子/静电放电

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李晓松..浅谈微电子器件的可靠性[J].现代信息科技,2018,2(10):54-55,2.

现代信息科技

2096-4706

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