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基于稀疏表示的绝缘子紫外图谱闪络状态分类评估方法

刘云鹏纪欣欣裴少通王胜辉

高电压技术2018，Vol.44Issue(10)：3352-3358,7.

高电压技术2018，Vol.44Issue(10)：3352-3358,7.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20180925027

Method for Evaluating Flashover State of Insulator Ultraviolet Image Based on Sparse Representation

刘云鹏 ¹纪欣欣 ¹裴少通 ¹王胜辉¹

作者信息

绝缘子/稀疏表示/紫外图谱/闪络分级/正交匹配追踪法/加速近邻梯度法

刘云鹏,纪欣欣,裴少通,王胜辉..基于稀疏表示的绝缘子紫外图谱闪络状态分类评估方法[J].高电压技术,2018,44(10):3352-3358,7.

中央高校基本科研业务费专项资金(2015ZD19 （）

2017XS117). （）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1003-6520

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